FT200 Series | Automated XRF for rapid coatings analysis

FT200 Series adalah rangkaian analyzer X-ray Fluorescence (XRF) benchtop dari Hitachi High-Tech, dirancang khusus untuk analisis ketebalan pelapis (coating) dengan kecepatan tinggi dan presisi tinggi. Sistem ini menghadirkan otomatisasi cerdas yang mengurangi waktu pengukuran dan meminimalkan intervensi operator, menjadikannya pilihan ideal untuk lingkungan produksi yang padat.

Keunggulan Utama

• Otomatisasi Proses Analisis
  Dengan modul Smart Recognition seperti Find My Part™, pengguna hanya perlu memuat sampel dan mengonfirmasi jenis bagian — sistem akan secara otomatis menentukan lokasi pengukuran yang tepat, memilih program analisis yang sesuai, dan melaporkan hasil ke sistem kontrol kualitas.

• Efisiensi Waktu
  Fokus laser otomatis membantu mempercepat proses pemuatan sampel. Kombinasi ini mengurangi waktu persiapan dan pengukuran, sehingga Anda dapat memeriksa lebih banyak bagian dalam satu shift.

• User Interface yang Intuitif
  Antarmuka pengguna dirancang agar mudah digunakan bahkan oleh operator non-spesialis. Tampilan kamera sampel yang lebar di layar memudahkan visualisasi bagian sebelum pengukuran.

• Kinerja Analisis yang Kuat
  Mampu mengukur hingga empat lapisan pelapis sekaligus (plus substrat), memberikan fleksibilitas analisis yang tinggi.

• Diagnostik Mandiri
  Fitur self-check memastikan kesehatan dan stabilitas instrumen secara berkelanjutan, menjaga akurasi pengukuran dari waktu ke waktu.

• Integrasi Data & Ekspor
  Data hasil pengukuran dapat dengan mudah diekspor dan diintegrasikan ke dalam sistem mutu perusahaan, mendukung alur kerja inspeksi dan dokumentasi.

• Tahan Lama dan Andal
  Dibangun untuk penggunaan di lingkungan produksi atau laboratorium yang menuntut, dengan konstruksi yang kokoh dan umur panjang.

• Kepatuhan Standar Industri
  Sesuai dengan standar pengukuran seperti ASTM B568 dan DIN ISO 3497, serta spesifikasi IPC seperti ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), perendaman timah (immersion Sn, IPC-4554), dan perendaman perak (immersion Ag, IPC-4553A)

Spesifikasi Teknis

• Model: FT210 dan FT230

• Jangkauan Unsur: Ti (22) – U (92)

• Detektor: Proportional Counter atau Silicon Drift Detector (SDD)

• Desain Chamber: Slotted atau Closed

• Tipe Stage XY: Motorized (bermotor) atau Fixed (tetap)

• Pergerakan Stage XY: 250 × 200 mm

• Pergerakan Z-axis: 205 mm

• Ukuran Sampel Maksimum: 500 × 400 × 150 mm

• Jumlah Kolimator: 4

• Fokus Laser: Termasuk sebagai fitur standar

• Kamera Tampilan Lebar: Opsi tersedia

• Pengukuran Independen dari Jarak: Opsi tersedia

• Perangkat Lunak: FT Connect

Aplikasi

FT200 Series sangat cocok untuk berbagai aplikasi industri yang memerlukan pengukuran ketebalan pelapis secara akurat dan cepat, seperti:

• Industri otomotif

• Industri elektronik (mis. papan sirkuit, konektor)

• Industri pelapisan logam (plating / coating)

• Kontrol kualitas di laboratorium dan pabrik

Reference :  FT200 Series | Automated XRF for rapid coatings analysis