X-ray Diffraction Spectrometers (XRD)

Bruker’s X-ray Diffraction (XRD) and Scattering portfolio memungkinkan analisis terperinci dari materi apapun mulai dari penelitian mendasar hingga kontrol kualitas industri yang memberikan solusi berwawasan ke depan bagi pelanggan kami saat ini.

D8 ADVANCE adalah sebuah artis perubahan cepat nyata yang dapat dikonfigurasi untuk melakukan satu tugas analitis dengan fokus yang hebat dan komponen khusus, atau solusi multi-fungsi berfitur lengkap yang mampu menangani kebutuhan analisis yang sangat beragam dengan kompetensi tertinggi

Desain DAVINCI kami yang terkenal memastikan untuk semua solusi tersebut dengan konfigurasi yang mudah dikonfigurasi(ulang) dan dapat diperpanjang untuk benar-benar memenuhi kebutuhan analitis Anda, sekarang dan di masa depan.

Penerapan teknik kualitatif dan kuantitatif ini meliputi:

• Identifikasi Fase
• Analisis kuantitatif
• Penentuan struktur kristal
• Analisis PDF (hamburan total)
• Small Angle X-Ray Scattering (SAXS)
• Reflektometri Sinar-X (XRR)
• Difraksi Sinar-X Resolusi Tinggi (HRXRD)
• Reciprocal Space Mapping (RSM)
• Stres Sisa
• Tekstur (figur tiang)

Dynamic Beam Optimization

Dynamic Beam Optimization (DBO) memberikan data difraksi serbuk terbaik di kelasnya dengan menetapkan tolok ukur baru dalam hal statistik penghitungan dan rasio puncak-ke-latar belakang, semua tanpa perlu mengkonfigurasi ulang instrumen secara manual.

Detektor LYNXEYE XE-T dispersif energi berkecepatan tinggi secara unik menggabungkan pengumpulan data cepat dengan penyaringan fluoresensi dan radiasi Kβ yang belum pernah terjadi sebelumnya. Variable Active Detector Window dan Motorized Anti-Scatter Screen (MASS) miliknya memungkinkan pengumpulan data dari sudut 2Th terendah tanpa parasit hamburan latar belakang sudut rendah, khususnya hamburan udara.

TRIO™

Optik TRIO ™ adalah komponen kunci dari D8 ADVANCE Plus, yang memenuhi tuntutan khusus pada resolusi instrumen dari tiga geometri difraksi sinar-X yang paling umum digunakan dalam satu optik tunggal:

• Sinar divergen untuk difraksi serbuk konvensional (XRPD)
• Sinar paralel intensitas tinggi untuk eksperimen kapiler, pengukuran tidak sensitif ketinggian, geometri kejadian penggembalaan sensitif permukaan (GID), penentuan ketebalan lapisan (XRR) dan difraksi mikro (μXRD)

Sinar paralel Cu-Kα1 murni untuk difraksi resolusi tinggi (HRXRD) dari film tipis epitaxial dan sampel bubuk simetri rendah.

Desain DAVINCI – kemudahan penggunaan tanpa kompromi

Desain DAVINCI adalah landmark D8 ADVANCE sebagai sistem modular yang unik. Dari tabung sinar-X, melalui tahap optik dan sampel hingga detektor, setiap pengguna dapat mengubah dari satu geometri berkas ke yang lain atau bertukar komponen individu tanpa masalah sama sekali, menawarkan kemampuan beradaptasi yang tak tertandingi untuk aplikasi difraksi sinar-x apapun. DAVINCI dilengkapi dengan perubahan tombol tekan dari optik TWIN dan TRIO, saklar SNAP-LOCK ke optik khusus atau panjang gelombang berbeda dan pengenalan komponen waktu nyata dan tampilan status

Bruker D8 Advance XRD

Bruker’s X-ray Diffraction and Scattering portfolio enable detailed analysis of any material from fundamental research to industrial quality control providing forward-looking solutions to our customers today.

The D8 ADVANCE is a real quick-change artist that can be configured to take on a single analytical task with great focus and dedicated components or a fully-featured, multi-purpose solution that is capable of dealing with very diverse analytical needs with the highest competence.

Our famous DAVINCI design ensures for all those solutions easy (re)configuration and extensibility to exactly satisfy your analytical needs, now and in the future.

Applications of these qualitative and quantitative techniques include:

• Phase Identification
• Quantitative Analysis
• Crystal structure determination
• PDF analysis (total scattering)
• Small Angle X-Ray Scattering (SAXS)
• X-ray Reflectometry (XRR)
• High-Resolution X-Ray Diffraction (HRXRD)
• Reciprocal Space Mapping (RSM)
• Residual Stress
• Texture (pole figures)

Dynamic Beam Optimization

Dynamic Beam Optimization (DBO) provides best in class powder diffraction data by setting new benchmarks in terms of counting statistics and peak-to-background ratio, all without the need for manual instrument reconfiguration.

The high-speed energy-dispersive LYNXEYE XE-T detector uniquely combines fast data collection with unprecedented filtering of fluorescence and Kβ radiation. Its proprietary Variable Active Detector Window and the Motorized Anti-Scatter Screen (MASS) enable data collection from the lowest 2Th angles without parasitic low-angle background scattering, in particular air scattering.

TRIO – Three in One

The TRIO™ optic is the key component of the D8 ADVANCE Plus, meeting the specific demands on the instrument resolution of the three most commonly used X-ray diffraction geometries in one single optic:

• Divergent beam for conventional powder diffraction (XRPD)
• High-intensity parallel beam for capillary experiments, height insensitive measurements, surface-sensitive grazing incidence geometry (GID), coating thickness determination (XRR), and micro-diffraction (μXRD)

Pure Cu-Kα1 parallel beam for high-resolution diffraction (HRXRD) of epitaxial thin films and low symmetry powder samples

DAVINCI Design – uncompromised ease-of-use

The DAVINCI design is the D8 ADVANCE’s landmark as a unique modular system. From the X-ray tube, through optics and sample stages all the way to the detectors, any user is capable of changing from one beam geometry to another or exchanging individual components with no trouble at all, offers unparalleled adaptability to any application in X-ray diffraction. DAVINCI equipped with a push-button change of TWIN and TRIO optics, SNAP-LOCK switch to dedicated optics or different wavelengths, and real-time component recognition and status display