Surface Metrology / Optical Profiler

METROLOGI PERMUKAAN / PROFILER OPTIK (Surface Metrology/Optical Profiler)

Polytec menangani pasar metrologi permukaan dengan teknologi profilometer 3-D yang presisi dan inovatif serta mampu bekerja pada permukaan yang kasar, halus, dan berundak tanpa kontak. Produk ini berbasis pada pemindaian interferometri cahaya putih, disebut juga pemindaian interferometri koheren atau pemindaian interferometri vertikal atau radar koherensi.

Dengan jangkauan vertikal dan resolusi nanometer yang besar membubat alat ini menjadi alat yang ideal untuk menentukan kerataan, perbedaan ketinggian dan paralelisme dari permukaan dan struktur yang besar, termasuk bahan lunak.

Advance Profilometer

TMS-1200

Dengan resolusi spasial yang tinggi, mikroskop pengukuran TMS-1200 TopMap µLab menetapkan standar baru dalam pengukuran topografi tanpa kontak.

Surface metrology TMS-1200 memperoleh peta topografi resolusi tinggi dari struktur mikro dan permukaan fungsional untuk menentukan parameter penting seperti kerataan, riak, dan kekasaran secara sederhana, cepat, dan tepat.

Profilometer 3-D untuk Permukaan

TMS-5004

TMS-500 TopMap adalah alat pengukuran dengan presisi tinggi dan topografi tanpa kontak yang dirancang untuk karakterisasi permukaan yang efisien dan cepat dari komponen mekanis presisi.

Advance Profilometer – TMS-1200

With its high spatial resolution, the TMS-1200 TopMap µ.Lab measurement microscope sets new standards in non contact-topography measurement.

Simple, quick and precise, it acquires high-resolution topographical maps of functional surfaces and microstructures to determine critical parameters such as flatness, ripple and roughness.

3-D Profilometer for Surface

TMS-5004

The TMS-500 TopMap is a high-precision, non-contact topography measurement system designed for fast and efficient surface characterization of precision mechanical components.