Innova-IRIS AFM

Innova-IRIS AFM merupakan kombinasi Tip-enhanced Raman Spectroscopy (TERS) dengan AFM dan Raman spektroskopi. Sistem ini dengan sistem Renishaw inVia Micro Raman menghasilkan nano spectroscopy dan analisis nano chemical.

Integrated TERS System untuk Analisis Nanoscale Chemical:

• Solusi terlengkap untuk performa tinggi TERS.
• Sangat mudah digunakan untuk nano-spectroscopy pada material nano structured.
• Colocalized AFM-Raman microscopy dengan overlay gambar.
• Kapabilitas AFM terlengkap dan sistem operasi dengan performa tinggi.

Foto Tip Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) dari grafena CVD, menggambarkan variasi dalam intensitas pita G dan 2D pada skala panjang 10 nm. Foto milik Renishaw.

High Performance Reliable TERS Probes

Performa tinggi TERS memberikan pengukuran pada beragam sampel. Probe TERS-AFM Tuning Fork dari Bruker, menunjukkan zero spectral interference. Platform sistem Innova-IRIS AFM memberikan solusi bagi penelitian TERS.

Korelasi topografi AFM (kiri) dan Raman chemical map (kanan) dari individual graphene flakes menggunakan Innova-IRIS AFM dan sistem inVia.

Informasi lebih lanjut:

https://www.bruker.com/en/products-and-solutions

https://www.bruker.com/en/products-and-solutions/microscopes/materials-afm.html