FusionScope: Revolusi Baru dalam Dunia Mikroskopi Presisi Tinggi
FusionScope® membawa revolusi dalam mikroskopi modern dengan menggabungkan Atomic Force Microscopy (AFM) dan Scanning Electron Microscopy (SEM) dalam satu sistem. Inovasi ini mengatasi tantangan analisis sampel kompleks, seperti pisau cukur, dengan memanfaatkan SEM untuk memandu penempatan tip AFM secara real-time, memastikan akurasi hingga tingkat nanometer. Teknologi ini menggunakan sensor regangan piezoresistif untuk membaca defleksi cantilever AFM tanpa laser, memungkinkan pencitraan SEM simultan tanpa gangguan.
(Gambar SEM menunjukkan tip cantilever di atas pisau cukur, menampilkan geometri tip dan topografi)
(FusionScope bekerja dengan mengukur pembengkokan cantilever akibat interaksi antara ujung dan sampel menggunakan sensor regangan piezoresistif)
Dalam aplikasinya, seperti studi permukaan pisau cukur, FusionScope memungkinkan:
- Posisi kasar menggunakan kamera optik,
- Posisi halus menggunakan SEM live imaging,
- Pemindaian topografi 3D permukaan dengan resolusi nanometer,
- Analisis radius ujung pisau dengan akurasi hingga 60–80 nm.
(Topografi 3D permukaan pisau cukur dengan ukuran 5 μm x 24 μm dan resolusi nanometer)
Pengguna dapat memindai titik sampel dengan cepat dan menganalisis variasi material atau ketajaman struktur dalam satu sistem, seperti temuan “double-groove” pada permukaan pisau.
(Gambar topografi AFM yang menunjukkan fitur ‘double-groove’ pada permukaan pisau cukur)
(Pemindaian garis pada dua posisi di pisau cukur untuk menganalisis jari-jari pisau dengan resolusi nanometer)
Dengan FusionScope, kompleksitas pengukuran di dunia nano menjadi lebih sederhana, lebih akurat, dan lebih cepat — menjadikannya alat yang tak tergantikan bagi para ilmuwan, insinyur, hingga peneliti di berbagai bidang, mulai dari material hingga biologi dan teknologi canggih.
