Dimension Nexus : Atomic Force Microscopy Generasi Baru untuk Berbagai Aplikasi

Dimension Nexus: Atomic Force Microscopy Generasi Baru untuk Berbagai Aplikasi

Dimension Nexus dari Bruker adalah terobosan terbaru dalam Atomic Force Microscopy (AFM) yang menggabungkan kinerja tinggi, fleksibilitas eksperimen, dan kemudahan penggunaan dalam satu sistem yang ringkas. Dengan NanoScope® 6 Controller dan teknologi unggulan PeakForce Tapping®, perangkat ini menawarkan resolusi tinggi dan kemampuan metrologi yang akurat untuk berbagai aplikasi riset dan industri.

Keunggulan Utama Dimension Nexus:

• Fleksibilitas Eksperimen – Mendukung lebih dari 50 mode AFM, memungkinkan penyesuaian untuk berbagai kebutuhan penelitian.
• Resolusi Tinggi – Mampu menghasilkan gambar dengan detail atomik dan sub-molekuler, ideal untuk karakterisasi material tingkat lanjut.
• Produktivitas Tinggi – Dilengkapi dengan panggung motorik yang dapat diprogram, mempercepat pengumpulan data dan meningkatkan efisiensi eksperimen.

Berbagai Aplikasi Dimension Nexus :

1. Karakterisasi Polimer dan Komposit
   • Dengan PeakForce QNM®, perangkat ini dapat memetakan distribusi nanomekanik dalam campuran polimer seperti PS-PMMA-PVC, membantu analisis sifat material.
2. Penelitian Material 2D
   • Nexus dapat mengkarakterisasi graphene, moiré superlattices, dan hexagonal boron nitride (hBN) menggunakan Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) untuk studi potensi permukaan.
     

     

     (Citra hexagonal boron nitride (hBN) menggunakan Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM). Gambar topografi (kiri) dan peta potensi permukaan (kanan) berukuran 6×6 µm, diperoleh dengan probe SCM-PIT-V2.)

3.  Analisis Baterai Lithium-ion 
   
   • Memungkinkan studi in-situ elektrokimia untuk mengamati aktivitas lokal dan degradasi elektroda pada tingkat nanoskopis.
   •  
4. Metrologi Semikonduktor
   • Digunakan untuk mengukur kekasaran permukaan film tipis dengan akurasi tinggi, mendukung industri manufaktur elektronik.

     

     (DataCube CR PFM pada film tipis piezoelektrik BFO. Grafik menunjukkan amplitudo PFM terhadap tegangan pada berbagai frekuensi di 5 titik sampel. Citra amplitudo PFM 3 µm (inset), menggunakan probe SCM-PIT-V2.)

5. Metrologi Semikonduktor
   • Dengan ScanAsyst® dan PeakForce Tapping, alat ini dapat mengamati struktur DNA origami dalam cairan tanpa merusak sampel, membuka peluang baru dalam nanobioteknologi.
     
     (ScanAsyst DNA origami berbentuk segitiga dalam cairan. Ukuran 500 x 500 nm, menggunakan probe ScanAsyst-Fluid+.)
     

Dengan berbagai keunggulan dan aplikasi yang luas, Dimension Nexus menjadi pilihan utama bagi laboratorium riset, industri, dan fasilitas multi-pengguna yang membutuhkan teknologi AFM canggih dengan nilai optimal.

Dimension Nexus AFM