Artikel

Bruker ContourX-100: Profilometer Optik Inovatif untuk Analisis Permukaan Presisi Tinggi

Bruker ContourX-100: Profilometer Optik Inovatif untuk Analisis Permukaan Presisi Tinggi

Bruker ContourX-100 merupakan profilometer optik mutakhir yang dirancang untuk analisis permukaan 3D secara cepat, akurat, dan non-destruktif. Dengan teknologi white light interferometry (WLI), alat ini memungkinkan pengukuran topografi dengan resolusi tinggi dari skala nanometer hingga milimeter—tanpa menyentuh permukaan sampel.

Desainnya yang ringkas dan antarmuka pengguna yang intuitif menjadikan ContourX-100 sangat cocok digunakan dalam berbagai aplikasi, mulai dari riset ilmiah, pengembangan material, hingga kontrol kualitas di industri seperti manufaktur, elektronik, otomotif, dan biomedis.

Keunggulan Utama:

  • Resolusi vertikal sub-nanometer untuk pengukuran permukaan yang sangat presisi
  • Pengukuran tanpa kontak fisik untuk menjaga integritas sampel
  • Pemindaian otomatis yang meningkatkan efisiensi kerja
  • Kompatibel dengan berbagai jenis material dan topografi permukaan
  • Perangkat lunak terintegrasi untuk pemrosesan data dan pelaporan yang efisien

Area Aplikasi:

  • Metrologi: Menjamin tekstur permukaan dan akurasi dimensi pada komponen presisi; ideal untuk standar GD&T.
  • MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems) & Sensor: Mengukur ketebalan lapisan, tinggi langkah, dan kekasaran permukaan; mendukung metrologi selama proses fabrikasi MEMS.
  • Ortopedi/Oftalmik: Menganalisis permukaan implan dan lensa untuk R&D, QA, dan QC di produksi alat medis.
  • Tribologi: Mengevaluasi gesekan, keausan, dan pelumasan pada berbagai permukaan untuk memprediksi kinerja dan umur pakai.
  • Semikonduktor: Pemeriksaan wafer tanpa kontak, analisis pasca-CMP (Chemical Mechanical Planarization), dan deteksi cacat.

Optik: Mengoptimalkan pemolesan lensa, asferis, dan struktur mikro-optik dengan presisi sub-nanometer.

(Metrologi)

(Metrologi)

(MEMS & Sensor)

(Ortopedi/Oftalmik)

 

(Tribologi)

(Semikonduktor)

(Optik)

 

Bruker ContourX-100 hadir sebagai solusi cerdas untuk karakterisasi permukaan yang presisi dan andal. Alat ini secara signifikan meningkatkan produktivitas di laboratorium maupun lingkungan produksi, serta mendukung pengambilan keputusan berbasis data dalam pengembangan material dan penjaminan mutu.