Artikel

Pengenalan Optical Profilometer: Teknologi Canggih untuk Analisis Permukaan Tanpa Sentuhan

Pengenalan Optical Profilometer: Teknologi Canggih untuk Analisis Permukaan Tanpa Sentuhan

Dalam dunia riset material dan manufaktur presisi, memahami karakteristik permukaan adalah hal yang sangat penting. Kekasaran, ketinggian, atau bentuk mikro dari suatu material dapat memengaruhi kinerja produk secara keseluruhan, mulai dari daya rekat lapisan, gesekan, hingga kualitas optik. Di sinilah Optical Profilometer berperan sebagai solusi modern yang cepat, akurat, dan non-destruktif.

Apa Itu Optical Profilometer?

Optical Profilometer adalah instrumen pengukuran topografi permukaan yang bekerja menggunakan cahaya, bukan kontak fisik seperti jarum atau stylus. Alat ini menghasilkan peta 3D dengan resolusi tinggi yang menunjukkan detail permukaan hingga skala nanometer, tanpa merusak sampel sedikit pun. Teknologi ini sangat berguna untuk berbagai bidang, mulai dari semikonduktor, metalurgi, polimer, coating, hingga bioteknologi. Misalnya, di industri semikonduktor, profilometer digunakan untuk mengevaluasi kehalusan wafer; di bidang material coating, alat ini membantu memastikan ketebalan dan keseragaman lapisan; sementara di bidang bioteknologi, profilometer digunakan untuk mempelajari morfologi permukaan jaringan biologis, biofilm, atau permukaan implan guna memahami interaksi antara material dan sel.

Bagaimana Cara Kerjanya?

Optical Profilometer bekerja dengan memanfaatkan interferometri atau konfokal optik. Sederhananya, cahaya dipantulkan dari permukaan sampel dan dibandingkan dengan cahaya referensi. Perbedaan fase dan intensitas pantulan ini kemudian diolah menjadi data ketinggian (height map) yang membentuk citra 3D permukaan.

Karena berbasis optik, alat ini mampu memindai permukaan dengan kecepatan tinggi dan akurasi tinggi, bahkan pada area yang sangat halus atau lembut, seperti film tipis, plastik, atau jaringan biologis.

Gambar di atas Prinsip kerja Optical Profilometer

Keunggulan Dibanding Mikroskop Konvensional

  1. Tanpa Sentuhan dan Non-Destruktif

Tidak ada risiko merusak sampel, berbeda dengan stylus profilometer atau AFM yang menyentuh permukaan.

  1. Cepat dan Efisien

Pengukuran dilakukan hanya dalam hitungan detik, cocok untuk kebutuhan kontrol kualitas (QC) maupun penelitian berulang.

  1. Area Pemindaian Luas

Optical Profilometer dapat memetakan area besar sekaligus, dengan resolusi vertikal hingga nanometer.

  1. Analisis Kuantitatif Lengkap

Hasilnya tidak hanya berupa gambar, tetapi juga data numerik seperti Ra, Rq, dan Rt (parameter kekasaran yang penting untuk analisis teknik).

Area pemindaian yang luas

(Contoh pada gambar hingga ~166 µm²)

Tanpa menyentuh sampel, desain tip/tilt unik dari Bruker menjaga fokus otomatis pada titik ukur tanpa perlu penyesuaian manual, sehingga pengambilan data lebih cepat dan efisien

Hasil pengukuran menggunakan Optical Profilometer mencakup kekasaran rata-rata 3D (Sa), kekasaran akar rata-rata kuadrat (Sq), tinggi puncak maksimum (Sv), kedalaman lembah maksimum (Sp), total tinggi permukaan (Sp + Sv)

 

Penggabungan informasi topografi dengan distribusi pembacaan Raman sampel anoda. Gambar menunjukkan penggabungan antara topografi dan grafit alami (natural graphite) pada gambar overlay merah. Gambar di bawahnya menunjukkan penggabungan informasi topografi dan karbon hitam (black carbon) di bagian lembah-nya.

Apa yang Membuatnya Unik?
Keunikan Optical Profilometer terletak pada kombinasi antara ketelitian nanometer dan fleksibilitas makroskopik. Ia mampu menampilkan detail mikro tanpa mengorbankan cakupan area, menjadikannya jembatan sempurna antara mikroskop optik dan alat ukur permukaan berpresisi tinggi. Dengan tampilan data 3D yang intuitif dan kemampuan mengukur tanpa kontak, Optical Profilometer kini menjadi standar utama dalam karakterisasi permukaan modern, baik di laboratorium riset maupun lini produksi industri.

 

ContourX-1000
ContourX-500