inVia Raman Microscope

inVia Raman Microscope dari Renishaw dirancang dengan sistem berkinerja tinggi dan berkualitas yang telah dikembangkan serta disempurnakan untuk menjadikannya salah satu instrumen Raman paling dipercaya.

inVia™ confocal Raman microscope dikombinasikan dengan spektrometer Raman. Alat ini mudah dioperasikan serta memberikan kinerja luar biasa dengan high signal throughput yang dikombinasikan dengan high spectral resolution dan stabilitas sehingga memberikan hasil yang dapat diandalkan meskipun untuk pengukuran paling rumit.

Desain optik inVia™ confocal Raman microscope sangat efisien menghasilkan data Raman terbaik bahkan dari jejak material yang sangat kecil.

Tidak hanya itu, inVia Raman microscope adalah pilihan yang tepat untuk memproduksi imaging kimia yang detail dan kaya, hingga data yang sangat spesifik dari titik-titik diskrit secara mudah dan dapat diandalkan.

Selanjutnya, konfigurasi inVia Raman Microscope dapat memisahkan fitur spektral yang sempit. Karenanya, user dapat membedakan antara pita Raman yang dekat dan membedakan material yang sangat mirip, seperti campuran kompleks.

Fitur inVia Raman Microscope Renishaw

Di bawah ini adalah fitur yang terdapat dalam inVia Confocal Raman Microscope Renishaw.

inVia Raman Microscope dari Renishaw pun memiliki keunggulan, di antaranya.

• Maintain focus in real time, sample surface/interface tracking technology, teknologi pelacakan fokus otomatis LiveTrack™ untuk mendapatkan spektrum dan topografi yang akurat dan dapat diulang secara real-time dari sampel dengan variasi ketinggian yang luas. Menciptakan gambar 3D yang menakjubkan pada permukaan yang tidak rata, melengkung, atau kasar tanpa perlu melakukan pemindaian awal.
• Sampling flexibility, InVia menawarkan berbagai konfigurasi dan aksesori terluas pada single sistem Raman.
• Powerful software, memperoleh, menganalisis, dan menampilkan data Raman berkualitas tinggi. WiRE (Lingkungan Raman berbasis Windows) dari Renishaw dirancang khusus untuk spektroskopi Raman.
• Raman polarisation option, untuk analisis simetri dan orientasi sampel, sehingga user dapat menentukan orientasi kristal (seperti mikrokristal) dan juga rasio depolarisasi untuk sampel cair
• Combine for even more power, desain fleksibel inVia juga dapat dikombinasikan dengan berbagai teknik spesialis lainnya. termasuk sistem difraksi sinar-X pada sinkronisasi, dan sistem difraksi neutron pada garis berkas
• Safety

For further information, please read this application notes

renishaw.com